32.768KHz Patch tinh thể thử nghiệm

Có thể đàm phánCập nhật vào05/24

Mô hình

Thiên nhiên của nhà sản xuất: Nhà sản xuất

Danh mục sản phẩm

Nơi xuất xứ

Tư vấn trực tuyến

Tổng quan

32.768KHz Chip tinh thể thử nghiệm được sử dụng để kiểm tra gói SMD (1610/2016/2012/3215/3225, vv), tần số kiểm tra chính, chu kỳ, PPM、 Báo động giới hạn trên dưới, thời gian cửa khẩu có thể chọn, thích hợp kiểm tra sản xuất lượng lớn và sàng lọc nguyên liệu.

Chi tiết sản phẩm

32.768KHz Patch tinh thể thử nghiệm

Giới thiệu sản phẩm:

Để kiểm tra gói SMD (1610/2016/2012/3215/3225, v.v.), tần số kiểm tra chính, chu kỳ, PPM、 Báo động giới hạn trên dưới, thời gian cổng có thể chọn, thích hợp kiểm tra sản xuất lượng lớn và sàng lọc nguyên liệu.

Mục kiểm tra cốt lõi Phù hợp với dụng cụ

Dự án bắt buộc

Tần số so với PPM: Xác định xem nó có nằm trong dung sai danh nghĩa ± 10/20/50ppm hay không, sàng lọc theo lô.

Kiểm tra các điểm phù hợp với dụng cụ

Passive Crystal: cần tải điện dung điều chỉnh (6pF/7pF/9pF/12.5pF, vv), mô phỏng tải mạch thực tế.

Kẹp: Loại phổ quát của đầu dò/mảnh đạn kẹp, gói nhỏ đề nghị chọn dụng cụ cảm ứng không tiếp xúc để tránh tổn thương pin.

Các chỉ số kỹ thuật chính:
Dải đo tần số: 0.1Hz - 100MHz
Độ nhạy đo tần số: 25mv
Đo PPm: 10 Hz - 100 MHz
Độ chính xác đo PPm: ≤1 PPm (1 × 10-6)
(Có thể mở rộng 0,1PPm, 0,01 PPm)
Tần số trung tâm: 0 Hz - 100 MHz tùy ý
Cài đặt phạm vi lỗi: ± 1 - ± 999 PPm tùy ý.
Thiết lập cổng: bốn bánh răng, 0,01s, 0,1s, 1s ba bánh răng cố định,
Cổng số 1 1ms-10s có thể được thiết lập,
Mỗi 1mS được thiết lập tùy ý cho một bậc thang.
Phạm vi đo chu kỳ: 100 ms - 10 s
Tần số cơ sở thời gian: 10MC
Ổn định tinh thể: 5 × 10-7/ngày

32.768KHz Patch tinh thể thử nghiệmẢnh bên dưới

32.768KHz贴片晶振测试仪

Sản phẩm tương tự Khuyến nghị